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菲希尔膜厚测量X-RAY系列

样品定位简便的特点：

膜厚测量仪XDLM-PCB 200型设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），菲希尔测厚仪，用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析

测量元素范围：从元素氯(17)到铀（92），较多可同时测定24种元素。

较小测量点约为：0.16mm

测量距离：0-10mm (0-0.4in)，进口测厚仪，使用受**保护的DCM测量距离补偿法

X射线探测器：比例接收器

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪

X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供较先进的产品和较完善的解决方案。

产品用途：

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛;

在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。

在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。

在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。

对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。

在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段

对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能**胜任。

X射线荧光镀层测厚仪，X射线测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。

我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，测厚仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。